Terug naar de homepage
|Aangeboden in rubriek:
Deze aanbieding is verkocht op wo, 6 okt om 2:27 AM.

Afbeelding 1 van 12

FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used - Afbeelding 1 van 12
FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used - Afbeelding 2 van 12
FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used - Afbeelding 3 van 12
FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used - Afbeelding 4 van 12
FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used - Afbeelding 5 van 12
FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used - Afbeelding 6 van 12
FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used - Afbeelding 7 van 12
FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used - Afbeelding 8 van 12
FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used - Afbeelding 9 van 12
FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used - Afbeelding 10 van 12
FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used - Afbeelding 11 van 12
FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used - Afbeelding 12 van 12
VERKOCHT
Hebt u iets om te verkopen?
Verkoop het zelf

FEI Company 19174-E Power Supply PCB Card GAIN, FPS, +3KV XL 830 FIB-SEM Used

Objectstaat:
Tweedehands
“Removed from a FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope ”... Meer lezenover objectstaat
Verkocht voor:
US $304,19
OngeveerEUR 282,27
Beste voorstel geaccepteerd
Dit object is aangeboden met de verkoopvorm Vaste prijs en met de optie Beste voorstel. De verkoper heeft een beste voorstel geaccepteerd.
Verzendkosten:
Gratis Standaardverzendservice. Details bekijkenvoor verzending
Bevindt zich in: Albuquerque, New Mexico, Verenigde Staten
Levering:
Geschatte levering tussen di, 14 mei en za, 18 mei tot 43230
De levertijd wordt geschat met onze eigen methode op basis van onder meer de nabijheid van de koper ten opzichte van de objectlocatie, de geselecteerde verzendservice, en de verzendgeschiedenis van de verkoper. De leveringstermijnen kunnen variëren, vooral gedurende piekperiodes.
Retourbeleid:
60 dagen om te retourneren. Verkoper betaalt voor retourzending. Details bekijken- voor meer informatie over retourzendingen
Betalingen:
     

Winkel met vertrouwen

Geld-terug-garantie van eBay
Ontvang het object dat u hebt besteld of krijg uw geld terug. 
Meer informatieGeld-terug-garantie van eBay - nieuw venster of tabblad

Verkopergegevens

Ingeschreven als zakelijke verkoper
Dit object rapporteren - nieuw venster of nieuw tabblad
De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.
eBay-objectnummer:173874195673
Laatst bijgewerkt op 08 jan 2021 17:39:05 CETAlle herzieningen bekijkenAlle herzieningen bekijken

Specificaties

Objectstaat
Tweedehands
Een object dat al eerder is gebruikt. Het object kan tekenen van cosmetische slijtage vertonen, maar werkt naar behoren. Dit object kan een showroommodel zijn of een object dat aan de verkoper geretourneerd is nadat het gebruikt is. Zie de aanbieding van de verkoper voor volledige details en een beschrijving van onvolmaaktheden. Alle staatdefinities bekijkenwordt in nieuw venster of op nieuw tabblad geopend
Opmerkingen van verkoper
“Removed from a FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope ...
Category
Semiconductor Tools Systems and Components
Inventory #
A-15205
Country/Region of Manufacture
United States
MPN
19174-E
Brand
FEI Company
System/Tool
FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Focused Microscope System
Model
GAIN, FPS, +3KV
UPC
Does not apply

Objectbeschrijving van de verkoper

usedeqsales

usedeqsales

99,5% positieve feedback
Andere objecten van verkoperNeem contact met ons op
Reageert meestal binnen 24 uur
Ingeschreven als zakelijke verkoper