Afbeelding 1 van 1

Hebt u iets om te verkopen?

Verkoop het zelf

Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research: Proceedi

Objectstaat:

Nieuw

Aantal:

7 beschikbaar

Prijs:

US $125,80

OngeveerEUR 116,83

Verzendkosten:

Gratis Economy Shipping. Details bekijkenvoor verzending

Bevindt zich in: Fairfield, Ohio, Verenigde Staten

Levering:

Geschatte levering tussen za, 18 mei en do, 30 mei tot 43230

Retourbeleid:

30 dagen om te retourneren. Koper betaalt voor retourzending. Details bekijken- voor meer informatie over retourzendingen

Betalingen:

Winkel met vertrouwen

Topverkoper

Betrouwbare verkoper, snelle verzending en eenvoudige retourzending.

Meer weten?- Topverkoper Plus: nieuw venster of tabblad

Geld-terug-garantie van eBay

Ontvang het object dat u hebt besteld of krijg uw geld terug.

Meer informatieGeld-terug-garantie van eBay - nieuw venster of tabblad

Verkopergegevens

grandeagleretail (918661)
98,2% positive feedback

Ingeschreven als zakelijke verkoper

Dit object rapporteren - nieuw venster of nieuw tabblad

De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.

eBay-objectnummer:395159225240

Laatst bijgewerkt op 01 apr 2024 14:31:06 CESTAlle herzieningen bekijkenAlle herzieningen bekijken

Specificaties

Objectstaat: Nieuw: Een nieuw, ongelezen en ongebruikt boek in perfecte staat waarin geen bladzijden ontbreken of ...

ISBN-13: 9780792359401

Book Title: Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Res

ISBN: 9780792359401

Series: NATO Science Series E: Ser.

Publication Year: 1999

Type: Textbook

Format: Trade Paperback

Language: English

Publication Name: Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research : Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Held in Erice, Italy, 14-25 April, 1999

Author: Giovanni Valdrè

Item Length: 9.4in

Publisher: Springer Netherlands

Item Width: 6.3in

Item Weight: 55.7 Oz

Number of Pages: Xxiv, 489 Pages

Over dit product

Product Information

The Advanced Study Institute provided an opportunity for researchers in universities, industry and National and International Laboratories, from the disciplines ofmaterials science, physics, chemistry and engineering to meet together in an assessment of the impact of electron and scanning probe microscopy on advanced material research. Since these researchers have traditionally relied upon different approaches, due to their different scientific background, to advanced materials problem solving, presentations and discussion within the Institute sessions were initially devoted to developing a set ofmutually understood basic concepts, inherently related to different techniques ofcharacterization by microscopy and spectroscopy. Particular importance was placed on Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS), Scanning Probe Microscopy (SPM), High Resolution Transmission and Scanning Electron Microscopy (HRTEM, HRSTEM) and Environmental Scanning Electron Microscopy (ESEM). It was recognized that the electronic structure derived directly from EELS analysis as well as from atomic positions in HRTEM or High Angle Annular Dark Field STEM can be used to understand the macroscopic behaviour of materials. The emphasis, however, was upon the analysis of the electronic band structure of grain boundaries, fundamental for the understanding of macroscopic quantities such as strength, cohesion, plasticity, etc.

Product Identifiers

Publisher

Springer Netherlands

ISBN-10

0792359402

ISBN-13

9780792359401

eBay Product ID (ePID)

2524750

Product Key Features

Author

Giovanni Valdrè

Publication Name

Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research : Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Held in Erice, Italy, 14-25 April, 1999

Format

Trade Paperback

Language

English

Series

NATO Science Series E: Ser.

Publication Year

1999

Type

Textbook

Number of Pages

Xxiv, 489 Pages

Dimensions

Item Length

9.4in

Item Width

6.3in

Item Weight

55.7 Oz

Additional Product Features

Series Volume Number

364

Number of Volumes

1 Vol.

Lc Classification Number

Ta418.5-.84

Table of Content

The impact of electron microscopy on materials research.- Microstructural design and tayloring of advanced materials.- Nanostructured materials.- Characterization of heterophase transformation interfaces by high-resolution transmission electron microscope techniques.- High resolution scanning electron microscopy observations of nano-ceramics.- Metal-ceramic interfaces studied with high resolution transmission electron microscopy.- Z-contrast scanning transmission electron microscopy.- Electron energy loss spectrometry in the electron microscope - Part 1: Introduction.- Electron energy loss spectrometry in the electron microscope - Part 2: EELS in the context of solid state spectroscopies.- Electron energy loss spectrometry in the electron microscope - Part 3: Interfaces and localised spectrometry.- EELS near edge structures. Application to intermetallic alloys and other materials.- Surface chemistiy and microstructure analysis of novel technological materials.- Convergent beam electron diffraction.- New developments in scanning probe microscopy.- Low-energy scanning electron microscope for nanolithography.- Application of low voltage Scanning Electron Microscopy and energy dispersive x-ray spectroscopy.- Environmental SEM and related applications. History of the environmental SEM and basic design concepts.- Environmental SEM and related applications. Gas interactions and gaseous amplification.- Environmental SEM and related applications. Applications.- ESEM image contrast and applications to wet organic materials.- Advanced electron and scanning probe microscopy on dental and medical materials research.- Correlative microscopy and probing in materials science.- Epilogue.

1999

Topic

Materials Science / General, Physics / Condensed Matter, Electron Microscopes & Microscopy, Chemistry / Physical & Theoretical, Microscopes & Microscopy

Lccn

99-042003

Dewey Decimal

620.11072

Intended Audience

Scholarly & Professional

Dewey Edition

Illustrated

Yes

Genre

Technology & Engineering, Science

Objectbeschrijving van de verkoper

Informatie van zakelijke verkoper

Premier Books LLC

David Taylor

26C Trolley Sq

19806-3356 Wilmington, DE

United States

Contactgegevens weergeven

:liam-Emoc.liaterelgaednarg@yabe

Ik verklaar dat al mijn verkoopactiviteiten zullen voldoen aan alle wet- en regelgeving van de EU.

De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.

eBay-objectnummer:395159225240

Laatst bijgewerkt op 01 apr 2024 14:31:06 CESTAlle herzieningen bekijkenAlle herzieningen bekijken

Verzending en verwerking

Objectlocatie:

Fairfield, Ohio, Verenigde Staten

Wordt verzonden naar:

Afghanistan, Albanië, Algerije, Andorra, Angola, Anguilla, Antigua en Barbuda, Argentinië, Armenië, Aruba, Australië, Azerbeidzjan, Bahama's, Bahrein, Bangladesh, België, Belize, Benin, Bermuda, Bhutan, Bolivia, Bosnië en Herzegovina, Botswana, Brazilië, Britse Maagdeneilanden, Brunei Darussalam, Bulgarije, Burkina Faso, Burundi, Cambodja, Canada, Centraal-Afrikaanse Republiek, Chili, China, Colombia, Comoren, Cookeilanden, Costa Rica, Cyprus, Democratische Republiek Congo, Denemarken, Djibouti, Dominica, Dominicaanse Republiek, Duitsland, Ecuador, Egypte, El Salvador, Equatoriaal-Guinea, Eritrea, Estland, Ethiopië, Falklandeilanden (Islas Malvinas), Fiji, Filipijnen, Finland, Frankrijk, Gabon, Gambia, Georgië, Ghana, Gibraltar, Grenada, Griekenland, Groenland, Guatemala, Guernsey, Guinee, Guinee-Bissau, Guyana, Haïti, Honduras, Hongarije, Hongkong, IJsland, Ierland, India, Indonesië, Irak, Israël, Italië, Ivoorkust, Jamaica, Japan, Jemen, Jersey, Jordanië, Kaaimaneilanden, Kaapverdische eilanden, Kameroen, Kazachstan, Kenia, Kirgizië, Kiribati, Koeweit, Kroatië, Laos, Lesotho, Letland, Libanon, Liberia, Liechtenstein, Litouwen, Luxemburg, Macau, Macedonië, Madagaskar, Malawi, Maldiven, Maleisië, Mali, Malta, Marokko, Mauritanië, Mauritius, Mayotte, Mexico, Moldavië, Monaco, Mongolië, Montenegro, Montserrat, Mozambique, Namibië, Nauru, Nederland, Nederlandse Antillen, Nepal, Nicaragua, Nieuw-Zeeland, Niger, Nigeria, Niue, Noorwegen, Oeganda, Oezbekistan, Oman, Oostenrijk, Pakistan, Paraguay, Peru, Polen, Portugal, Qatar, Republiek Congo, Roemenië, Rwanda, Saint Kitts en Nevis, Saint Lucia, Saint Pierre en Miquelon, Saint Vincent en de Grenadines, San Marino, Saudi-Arabië, Senegal, Servië, Seychellen, Sierra Leone, Singapore, Sint-Helena, Slovenië, Slowakije, Solomoneilanden, Somalië, Spanje, Spitsbergen en Jan Mayen, Sri Lanka, Suriname, Swaziland, Tadzjikistan, Taiwan, Tanzania, Thailand, Togo, Tonga, Trinidad en Tobago, Tsjaad, Tsjechië, Tunesië, Turkije, Turkmenistan, Turks- en Caicoseilanden, Tuvalu, Uruguay, Vanuatu, Vaticaanstad, Verenigd Koninkrijk, Verenigde Arabische Emiraten, Vietnam, Wallis en Futuna, Wereldwijd, Westelijke Sahara, Zambia, Zimbabwe, Zuid-Afrika, Zuid-Korea, Zweden, Zwitserland

Uitgesloten:

APO/FPO, Alaska/Hawaï, Amerikaanse protectoraten, Barbados, Frans-Guyana, Frans-Polynesië, Guadeloupe, Libië, Martinique, Nieuw-Caledonië, Oekraïne, Panama, Papoea-Nieuw-Guinea, Russische Federatie, Réunion, Venezuela, Westelijk Samoa, Wit-Rusland

Aantal:

Land wijzigen:

Postcode:

Verzending en verwerking	Elk volgende object	Tot	Service	Levering*Zie opmerkingen over levering
Gratis verzending	Gratis	Verenigde Staten	Economy Shipping	Geschatte levering tussen za, 18 mei en do, 30 mei tot 43230

Opmerkingen - Levering *Geschatte leveringsdatums zijn inclusief de verwerkingstijd van de verkoper, de postcode van de verzendlocatie, de postcode van de bestemming en de tijd waarop het object wordt ontvangen, en is afhankelijk van de geselecteerde verzendservice en het ontvangstbewijs van betaling. De leveringstermijnen kunnen variëren, vooral gedurende piekperiodes.

Verwerkingstijd

Wordt doorgaans binnen 10 werkdagen na ontvangst van betaling verzonden.

Belasting

Er kunnen belastingen van toepassing zijn tijdens Betalen. Meer weten?Lees meer over het betalen van belastingen op eBay-aankopen.