Afbeelding 1 van 1

Hebt u iets om te verkopen?

Verkoop het zelf

Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors by Jeroen A. Croon (Engli

Objectstaat:

Nieuw

Aantal:

7 beschikbaar

Prijs:

US $186,85

OngeveerEUR 173,53

Verzendkosten:

Gratis Economy Shipping. Details bekijkenvoor verzending

Bevindt zich in: Fairfield, Ohio, Verenigde Staten

Levering:

Geschatte levering tussen za, 18 mei en do, 30 mei tot 43230

Retourbeleid:

30 dagen om te retourneren. Koper betaalt voor retourzending. Details bekijken- voor meer informatie over retourzendingen

Betalingen:

Winkel met vertrouwen

Topverkoper

Betrouwbare verkoper, snelle verzending en eenvoudige retourzending.

Meer weten?- Topverkoper Plus: nieuw venster of tabblad

Geld-terug-garantie van eBay

Ontvang het object dat u hebt besteld of krijg uw geld terug.

Meer informatieGeld-terug-garantie van eBay - nieuw venster of tabblad

Verkopergegevens

grandeagleretail (918606)
98,2% positive feedback

Ingeschreven als zakelijke verkoper

Dit object rapporteren - nieuw venster of nieuw tabblad

De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.

eBay-objectnummer:395144538091

Laatst bijgewerkt op 01 apr 2024 07:25:44 CESTAlle herzieningen bekijkenAlle herzieningen bekijken

Specificaties

Objectstaat: Nieuw: Een nieuw, ongelezen en ongebruikt boek in perfecte staat waarin geen bladzijden ontbreken of ...

ISBN-13: 9781441937186

Book Title: Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors

ISBN: 9781441937186

Publication Year: 2010

Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science Ser.

Type: Textbook

Format: Trade Paperback

Language: English

Publication Name: Matching Properties of Deep Sub-Micron Mos Transistors

Author: Jeroen A. Croon, Willy Sansen, Herman E. Maes

Item Length: 9.4in

Publisher: Springer

Item Width: 6.3in

Item Weight: 16 Oz

Number of Pages: Xii, 206 Pages

Over dit product

Product Information

Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors examines this interesting phenomenon. Microscopic fluctuations cause stochastic parameter fluctuations that affect the accuracy of the MOSFET. For analog circuits this determines the trade-off between speed, power, accuracy and yield. Furthermore, due to the down-scaling of device dimensions, transistor mismatch has an increasing impact on digital circuits. The matching properties of MOSFETs are studied at several levels of abstraction: A simple and physics-based model is presented that accurately describes the mismatch in the drain current. The model is illustrated by dimensioning the unit current cell of a current-steering D/A converter. The most commonly used methods to extract the matching properties of a technology are bench-marked with respect to model accuracy, measurement accuracy and speed, and physical contents of the extracted parameters. The physical origins of microscopic fluctuations and how they affect MOSFET operation are investigated. This leads to a refinement of the generally applied 1/area law. In addition, the analysis of simple transistor models highlights the physical mechanisms that dominate the fluctuations in the drain current and transconductance. The impact of process parameters on the matching properties is discussed. The impact of gate line-edge roughness is investigated, which is considered to be one of the roadblocks to the further down-scaling of the MOS transistor. Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors is aimed at device physicists, characterization engineers, technology designers, circuit designers, or anybody else interested in the stochastic properties of the MOSFET.

Product Identifiers

Publisher

Springer

ISBN-10

1441937188

ISBN-13

9781441937186

eBay Product ID (ePID)

109205199

Product Key Features

Author

Jeroen A. Croon, Willy Sansen, Herman E. Maes

Publication Name

Matching Properties of Deep Sub-Micron Mos Transistors

Format

Trade Paperback

Language

English

Publication Year

2010

Series

The Springer International Series in Engineering and Computer Science Ser.

Type

Textbook

Number of Pages

Xii, 206 Pages

Dimensions

Item Length

9.4in

Item Width

6.3in

Item Weight

16 Oz

Additional Product Features

Series Volume Number

851

Number of Volumes

1 Vol.

Lc Classification Number

Tk7867-7867.5

Table of Content

Introduction: Matching analysis. Importance for circuit design. State of the art. Research objectives. Outline of this book.- Measurement and Modeling of Mismatch. Measurement setup. Experimental setup. Modeling of mismatch in the drain current. Width and length dependence. Example: Yield of a current-steering D/A converter. Conclusions.- Parameter Extraction. Extraction methods. Experimental setup. Comparison of extraction methods. Future issues. Conclusions.- Physical Origins of Mosfet Mismatch. Basic operation of the MOS transistor. Mismatch in the drain current. Physical origins of fluctuations. Conclusions.- Technological Aspects. Technology descriptions. Impact of the gate. Impact of the halo implantation. Comparison of di®erent CMOS technologies. Alternative device concepts. Conclusions.- Impact of Line-Edge Roughness. Characterization of line-edge roughness. Modeling the impact of line-width roughness. Experimental investigation of the impact of LWR. Prediction of the impact of LWR and guidelines. Conclusions.- Conclusions, Future Work and Outlook. Conclusions. Future work.- Outlook.

2005

Topic

Electronics / Semiconductors, Electronics / Circuits / General, Electronics / General, Physics / General

Dewey Decimal

621.3815/284

Intended Audience

Scholarly & Professional

Dewey Edition

Illustrated

Yes

Genre

Technology & Engineering, Science

Objectbeschrijving van de verkoper

Informatie van zakelijke verkoper

Premier Books LLC

David Taylor

26C Trolley Sq

19806-3356 Wilmington, DE

United States

Contactgegevens weergeven

:liam-Emoc.liaterelgaednarg@yabe

Ik verklaar dat al mijn verkoopactiviteiten zullen voldoen aan alle wet- en regelgeving van de EU.

De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.

eBay-objectnummer:395144538091

Laatst bijgewerkt op 01 apr 2024 07:25:44 CESTAlle herzieningen bekijkenAlle herzieningen bekijken

Verzending en verwerking

Objectlocatie:

Fairfield, Ohio, Verenigde Staten

Wordt verzonden naar:

Afghanistan, Albanië, Algerije, Andorra, Angola, Anguilla, Antigua en Barbuda, Argentinië, Armenië, Aruba, Australië, Azerbeidzjan, Bahama's, Bahrein, Bangladesh, België, Belize, Benin, Bermuda, Bhutan, Bolivia, Bosnië en Herzegovina, Botswana, Brazilië, Britse Maagdeneilanden, Brunei Darussalam, Bulgarije, Burkina Faso, Burundi, Cambodja, Canada, Centraal-Afrikaanse Republiek, Chili, China, Colombia, Comoren, Cookeilanden, Costa Rica, Cyprus, Democratische Republiek Congo, Denemarken, Djibouti, Dominica, Dominicaanse Republiek, Duitsland, Ecuador, Egypte, El Salvador, Equatoriaal-Guinea, Eritrea, Estland, Ethiopië, Falklandeilanden (Islas Malvinas), Fiji, Filipijnen, Finland, Frankrijk, Gabon, Gambia, Georgië, Ghana, Gibraltar, Grenada, Griekenland, Groenland, Guatemala, Guernsey, Guinee, Guinee-Bissau, Guyana, Haïti, Honduras, Hongarije, Hongkong, IJsland, Ierland, India, Indonesië, Irak, Israël, Italië, Ivoorkust, Jamaica, Japan, Jemen, Jersey, Jordanië, Kaaimaneilanden, Kaapverdische eilanden, Kameroen, Kazachstan, Kenia, Kirgizië, Kiribati, Koeweit, Kroatië, Laos, Lesotho, Letland, Libanon, Liberia, Liechtenstein, Litouwen, Luxemburg, Macau, Macedonië, Madagaskar, Malawi, Maldiven, Maleisië, Mali, Malta, Marokko, Mauritanië, Mauritius, Mayotte, Mexico, Moldavië, Monaco, Mongolië, Montenegro, Montserrat, Mozambique, Namibië, Nauru, Nederland, Nederlandse Antillen, Nepal, Nicaragua, Nieuw-Zeeland, Niger, Nigeria, Niue, Noorwegen, Oeganda, Oezbekistan, Oman, Oostenrijk, Pakistan, Paraguay, Peru, Polen, Portugal, Qatar, Republiek Congo, Roemenië, Rwanda, Saint Kitts en Nevis, Saint Lucia, Saint Pierre en Miquelon, Saint Vincent en de Grenadines, San Marino, Saudi-Arabië, Senegal, Servië, Seychellen, Sierra Leone, Singapore, Sint-Helena, Slovenië, Slowakije, Solomoneilanden, Somalië, Spanje, Spitsbergen en Jan Mayen, Sri Lanka, Suriname, Swaziland, Tadzjikistan, Taiwan, Tanzania, Thailand, Togo, Tonga, Trinidad en Tobago, Tsjaad, Tsjechië, Tunesië, Turkije, Turkmenistan, Turks- en Caicoseilanden, Tuvalu, Uruguay, Vanuatu, Vaticaanstad, Verenigd Koninkrijk, Verenigde Arabische Emiraten, Vietnam, Wallis en Futuna, Wereldwijd, Westelijke Sahara, Zambia, Zimbabwe, Zuid-Afrika, Zuid-Korea, Zweden, Zwitserland

Uitgesloten:

APO/FPO, Alaska/Hawaï, Amerikaanse protectoraten, Barbados, Frans-Guyana, Frans-Polynesië, Guadeloupe, Libië, Martinique, Nieuw-Caledonië, Oekraïne, Panama, Papoea-Nieuw-Guinea, Russische Federatie, Réunion, Venezuela, Westelijk Samoa, Wit-Rusland

Aantal:

Land wijzigen:

Postcode:

Verzending en verwerking	Elk volgende object	Tot	Service	Levering*Zie opmerkingen over levering
Gratis verzending	Gratis	Verenigde Staten	Economy Shipping	Geschatte levering tussen za, 18 mei en do, 30 mei tot 43230

Opmerkingen - Levering *Geschatte leveringsdatums zijn inclusief de verwerkingstijd van de verkoper, de postcode van de verzendlocatie, de postcode van de bestemming en de tijd waarop het object wordt ontvangen, en is afhankelijk van de geselecteerde verzendservice en het ontvangstbewijs van betaling. De leveringstermijnen kunnen variëren, vooral gedurende piekperiodes.

Verwerkingstijd

Wordt doorgaans binnen 10 werkdagen na ontvangst van betaling verzonden.

Belasting

Er kunnen belastingen van toepassing zijn tijdens Betalen. Meer weten?Lees meer over het betalen van belastingen op eBay-aankopen.