Afbeelding 1 van 1
NanoScience and Technology: Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning...
Objectstaat:
Prijs:
US $101,70
OngeveerEUR 93,77
- Nu kopenNanoScience and Technology: Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning...
Verzendkosten:
Bevindt zich in: Bangkok, Thailand
Levering:
Geschatte levering tussen ma, 3 jun en ma, 10 jun tot 43230
Retourbeleid:
30 dagen om te retourneren. Koper betaalt voor retourzending. Details bekijken- voor meer informatie over retourzendingen
Betalingen:
Winkel met vertrouwen
Verkopergegevens
- 98,6% positive feedback
Ingeschreven als zakelijke verkoper
De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.
eBay-objectnummer:362970018854
Specificaties
- Objectstaat
- ISBN
- 9783540740797
- EAN
- 9783540740797
- Publication Name
- Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning Probe Microscopy Techniques
- Item Length
- 9.3in
- Publisher
- Springer Berlin / Heidelberg
- Publication Year
- 2008
- Series
- Nanoscience and Technology Ser.
- Type
- Textbook
- Format
- Hardcover
- Language
- English
- Item Height
- 0.4in
- Item Width
- 6.1in
- Item Weight
- 33.5 Oz
- Number of Pages
- Lix, 465 Pages
Over dit product
Product Information
The success of the Springer Series Applied Scanning Probe Methods I-VII and the rapidly expanding activities in scanning probe development and applications worldwide made it a natural step to collect further speci c results in the elds of development of scanning probe microscopy techniques (Vol. VIII), characterization (Vol. IX), and biomimetics and industrial applications (Vol. X). These three volumes complement the previous set of volumes under the subject topics and give insight into the recent work of leading specialists in their respective elds. Following the tradition of the series, the chapters are arranged around techniques, characterization and biomimetics and industrial applications. Volume VIII focuses on novel scanning probe techniques and the understanding of tip/sample interactions. Topics include near eld imaging, advanced AFM, s- cializedscanningprobemethodsinlifesciencesincludingnewselfsensingcantilever systems, combinations of AFM sensors and scanning electron and ion microscopes, calibration methods, frequency modulation AFM for application in liquids, Kelvin probe force microscopy, scanning capacitance microscopy, and the measurement of electrical transport properties at the nanometer scale. Vol. IX focuses on characterization of material surfaces including structural as well as local mechanical characterization, and molecular systems. The volume covers a broad spectrum of STM/AFM investigations including fullerene layers, force spectroscopy for probing material properties in general, biological lms .and cells, epithelial and endothelial layers, medical related systems such as amyloidal aggregates, phospholipid monolayers, inorganic lms on aluminium and copper - ides, tribological characterization, mechanical properties ofpolymernanostructures, technical polymers, and near eld optics.
Product Identifiers
Publisher
Springer Berlin / Heidelberg
ISBN-10
3540740791
ISBN-13
9783540740797
eBay Product ID (ePID)
63628291
Product Key Features
Publication Name
Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning Probe Microscopy Techniques
Format
Hardcover
Language
English
Publication Year
2008
Series
Nanoscience and Technology Ser.
Type
Textbook
Number of Pages
Lix, 465 Pages
Dimensions
Item Length
9.3in
Item Height
0.4in
Item Width
6.1in
Item Weight
33.5 Oz
Additional Product Features
Number of Volumes
1 Vol.
Lc Classification Number
Tk7875
Table of Content
Background-Free Apertureless Near-Field Optical Imaging.- Critical Dimension Atomic Force Microscopy for Sub-50-nm Microelectronics Technology Nodes.- Near Field Probes: From Optical Fibers to Optical Nanoantennas.- Carbon Nanotubes as SPM Tips: Mechanical Properties of Nanotube Tips and Imaging.- Scanning Probes for the Life Sciences.- Self-Sensing Cantilever Sensor for Bioscience.- AFM Sensors in Scanning Electron and Ion Microscopes: Tools for Nanomechanics, Nanoanalytics, and Nanofabrication.- Cantilever Spring-Constant Calibration in Atomic Force Microscopy.- Frequency Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids.- Kelvin Probe Force Microscopy: Recent Advances and Applications.- Application of Scanning Capacitance Microscopy to Analysis at the Nanoscale.- Probing Electrical Transport Properties at the Nanoscale by Current-Sensing Atomic Force Microscopy.
Copyright Date
2008
Topic
Spectroscopy & Spectrum Analysis, Electron Microscopes & Microscopy, Chemistry / Physical & Theoretical, Nanotechnology & Mems, Microscopes & Microscopy
Dewey Decimal
502.82
Intended Audience
Scholarly & Professional
Dewey Edition
22
Illustrated
Yes
Genre
Technology & Engineering, Science
Objectbeschrijving van de verkoper
Informatie van zakelijke verkoper
THAI BOOK WORLD
Thailand
Ik verklaar dat al mijn verkoopactiviteiten zullen voldoen aan alle wet- en regelgeving van de EU.
De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.
eBay-objectnummer:362970018854
Verzending en verwerking
Objectlocatie:
Bangkok, Thailand
Wordt verzonden naar:
Wereldwijd
Uitgesloten:
Postbus, APO/FPO, Amerikaanse protectoraten, Guam, Midden-Amerika en de Caraïben, Oekraïne, Russische Federatie, Zuid-Amerika
| Verzending en verwerking | Tot | Service | Levering*Zie opmerkingen over levering |
|---|---|---|---|
| Gratis verzending | Verenigde Staten | Expedited Shipping from outside US | Geschatte levering tussen ma, 3 jun en ma, 10 jun tot 43230 |
| Verwerkingstijd |
|---|
| Wordt doorgaans binnen 3 werkdagen na ontvangst van betaling verzonden. |
| Belasting |
|---|
| Er kunnen belastingen van toepassing zijn tijdens Betalen. Meer weten?Lees meer over het betalen van belastingen op eBay-aankopen. |
Btw voor objectnr.362970018854
Btw voor objectnr.362970018854
Verkoper berekent btw op objecten die naar de volgende staten worden verzonden:
| Staat | Btw-tarief |
|---|
Retourbeleid
| Nadat u het object hebt ontvangen, kunt u contact opnemen met de verkoper binnen | Terugbetaling wordt verstrekt als | Kosten voor retourzending |
|---|---|---|
| 30 dagen | Geld terug | Koper betaalt voor retourzending |
De koper is verantwoordelijk voor de kosten van de retourzending.
| Details retourbeleid |
|---|
| Retourzendingen geaccepteerd |
Betalingsgegevens
Betalingsmethoden
Populaire rubrieken in deze winkel
Ingeschreven als zakelijke verkoper
Feedback verkoper (11.971)
h***a (210)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Amazing seller, really good communication throughout, would definitely recommend to anyone how good the service was👍🏼
m***9 (26)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Fast shipping
p***a (7)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Exactly what I ordered and arrived before estimated delivery date.