Hebt u iets om te verkopen?

ESD Testing : From Components to Systems, Hardcover by Voldman, Steven H., Li...

Objectstaat:
Vrijwel nieuw
2 beschikbaar
Prijs:
US $133,80
OngeveerEUR 125,26
Verzendkosten:
Gratis Economy Shipping. Details bekijkenvoor verzending
Bevindt zich in: Jessup, Maryland, Verenigde Staten
Levering:
Geschatte levering tussen di, 9 jul en vr, 19 jul tot 43230
Bij geschatte leveringsdatums - nieuw venster of tabblad wordt rekening gehouden met de verwerkingstijd van de verkoper, de postcode van de verzendlocatie, de postcode van de bestemming, en het moment van aanvaarding. Geschatte leveringsdatums zijn ook afhankelijk van de geselecteerde verzendservice en de ontvangst van de betalingbetaling ontvangen - nieuw venster of tabblad. De leveringstermijnen kunnen variëren, vooral gedurende piekperiodes.
Retourbeleid:
14 dagen om te retourneren. Koper betaalt voor retourzending. Details bekijken- voor meer informatie over retourzendingen
Betalingen:
     

Winkel met vertrouwen

Geld-terug-garantie van eBay
Ontvang het object dat u hebt besteld of krijg uw geld terug. 

Verkopergegevens

Ingeschreven als zakelijke verkoper
De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.
eBay-objectnummer:354952444935
Laatst bijgewerkt op 02 mrt 2024 08:57:49 CETAlle herzieningen bekijkenAlle herzieningen bekijken

Specificaties

Objectstaat
Vrijwel nieuw: Een boek dat er als nieuw uitziet, maar al wel is gelezen. De kaft is niet zichtbaar ...
Book Title
ESD Testing : From Components to Systems
ISBN
9780470511916
Subject Area
Technology & Engineering
Publication Name
Esd Testing : from Components to Systems
Publisher
Wiley & Sons, Incorporated, John
Item Length
9.7 in
Subject
Electronics / Semiconductors, Electronics / Circuits / Integrated, Electronics / Circuits / General
Publication Year
2016
Type
Textbook
Format
Hardcover
Language
English
Item Height
0.8 in
Author
Steven H. Voldman
Item Weight
22.4 Oz
Item Width
6.9 in
Number of Pages
328 Pages

Over dit product

Product Information

With the evolution of semiconductor technology and global diversification of the semiconductor business, testing of semiconductor devices to systems for electrostatic discharge (ESD) and electrical overstress (EOS) has increased in importance. ESD Testing: From Components to Systems updates the reader in the new tests, test models, and techniques in the characterization of semiconductor components for ESD, EOS, and latchup. Key features: Provides understanding and knowledge of ESD models and specifications including human body model (HBM), machine model (MM), charged device model (CDM), charged board model (CBM), cable discharge events (CDE), human metal model (HMM), IEC 61000-4-2 and IEC 61000-4-5. Discusses new testing methodologies such as transmission line pulse (TLP), to very fast transmission line pulse (VF-TLP), and future methods of long pulse TLP, to ultra-fast TLP (UF-TLP). Describes both conventional testing and new testing techniques for both chip and system level evaluation. Addresses EOS testing, electromagnetic compatibility (EMC) scanning, to current reconstruction methods. Discusses latchup characterization and testing methodologies for evaluation of semiconductor technology to product testing. ESD Testing: From Components to Systems is part of the authors' series of books on electrostatic discharge (ESD) protection; this book will be an invaluable reference for the professional semiconductor chip and system-level ESD and EOS test engineer. Semiconductor device and process development, circuit designers, quality, reliability and failure analysis engineers will also find it an essential reference. In addition, its academic treatment will appeal to both senior and graduate students with interests in semiconductor process, device physics, semiconductor testing and experimental work.

Product Identifiers

Publisher
Wiley & Sons, Incorporated, John
ISBN-10
0470511915
ISBN-13
9780470511916
eBay Product ID (ePID)
228461311

Product Key Features

Number of Pages
328 Pages
Language
English
Publication Name
Esd Testing : from Components to Systems
Publication Year
2016
Subject
Electronics / Semiconductors, Electronics / Circuits / Integrated, Electronics / Circuits / General
Type
Textbook
Subject Area
Technology & Engineering
Author
Steven H. Voldman
Format
Hardcover

Dimensions

Item Height
0.8 in
Item Weight
22.4 Oz
Item Length
9.7 in
Item Width
6.9 in

Additional Product Features

Intended Audience
Scholarly & Professional
LCCN
2016-023736
Dewey Edition
23
Dewey Decimal
621.38154
Lc Classification Number
Tk7870.285.V65 2016
Copyright Date
2017

Objectbeschrijving van de verkoper

Informatie van zakelijke verkoper

Expert Trading Limited
John Boyer
9220 Rumsey Rd
Ste 101
21045-1956 Columbia, MD
United States
Contactgegevens weergeven
:liam-Emoc.secirpkoobtaerg@sredroyabe
Ik verklaar dat al mijn verkoopactiviteiten zullen voldoen aan alle wet- en regelgeving van de EU.
Great Book Prices Store

Great Book Prices Store

96,8% positieve feedback
1,2M objecten verkocht
Reageert meestal binnen 24 uur

Gedetailleerde verkopersbeoordelingen

Gemiddelde van de afgelopen 12 maanden

Nauwkeurige beschrijving
4.9
Redelijke verzendkosten
5.0
Verzendtijd
4.9
Communicatie
4.8
Ingeschreven als zakelijke verkoper

Feedback verkoper (344.585)

1***a (709)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Nice book
y***8 (1484)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Thank you!
t***t (5)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
the book was delivered, torn