Hebt u iets om te verkopen?

Characterization Methods for Submicron MOSFETs (The Springer International Seri

Objectstaat:
Goed
Prijs:
GBP 122,36
OngeveerEUR 142,18
Verzendkosten:
GBP 7,20 (ongeveer EUR 8,37) Standaardverzendservice. Details bekijkenvoor verzending
Bevindt zich in: Hertfordshire, Verenigd Koninkrijk
Levering:
Geschatte levering tussen do, 16 mei en do, 23 mei tot 43230
Bij geschatte leveringsdatums - nieuw venster of tabblad wordt rekening gehouden met de verwerkingstijd van de verkoper, de postcode van de verzendlocatie, de postcode van de bestemming, en het moment van aanvaarding. Geschatte leveringsdatums zijn ook afhankelijk van de geselecteerde verzendservice en de ontvangst van de betalingbetaling ontvangen - nieuw venster of tabblad. De leveringstermijnen kunnen variëren, vooral gedurende piekperiodes.
De verkoper verzendt binnen 2 dagen na ontvangst van de betaling.
Retourbeleid:
30 dagen om te retourneren. Koper betaalt voor retourzending. Details bekijken- voor meer informatie over retourzendingen
Betalingen:
     

Winkel met vertrouwen

Geld-terug-garantie van eBay
Ontvang het object dat u hebt besteld of krijg uw geld terug. 

Verkopergegevens

Ingeschreven als zakelijke verkoper
De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.
eBay-objectnummer:152471050351
Laatst bijgewerkt op 13 feb 2020 17:18:28 CETAlle herzieningen bekijkenAlle herzieningen bekijken

Specificaties

Objectstaat
Goed: Een boek dat is gelezen, maar zich in goede staat bevindt. De kaft is zeer minimaal beschadigd ...
ISBN
9780792396956
Subject Area
Electrical Engineering
Publication Name
Characterization Methods for Submicron Mosfets
Publisher
Springer
Subject
Engineering & Technology, Physics
Publication Year
1996
Type
Textbook
Format
Hardcover
Language
English
Item Height
235mm
Author
Hisham Haddara
Item Width
155mm
Item Weight
1170g
Number of Pages
232 Pages

Over dit product

Product Information

The Metal-Oxide Semiconductor Field-Effect Transistor (MOSFET) is a key component in modern microelectronics. During the last decade, device physicists, researchers and engineers have been continuously faced with new elements making the task of MOSFET characterization increasingly crucial, as well as more difficult. The progressive miniaturization of devices has caused several phenomena to emerge and modify the performance of scaled-down MOSFETs. Localized degradation induced by hot carrier injection and Random Telegraph Signal (RTS) noise generated by individual traps are examples. It was thus unavoidable to develop new models and new characterization methods, or at least adapt the existing ones to cope with the special nature of these new phenomena. This study deals with techniques which show high potential for characterization of submicron devices. Focus is placed upon the adaptation of such methods to resolve measurement problems relevant to VLSI devices and new materials, especially Silicon-on-Insulator (SOI). The book was written to provide help to device engineers and researchers to enable them cope with the challenges they face. Without adequate device characterization, new physical phenomena and new types of defects or damage may not be well identified or dealt with, leading to an undoubted obstruction of the device development cycle.

Product Identifiers

Publisher
Springer
ISBN-13
9780792396956
eBay Product ID (ePID)
91408789

Product Key Features

Subject Area
Electrical Engineering
Author
Hisham Haddara
Publication Name
Characterization Methods for Submicron Mosfets
Format
Hardcover
Language
English
Subject
Engineering & Technology, Physics
Publication Year
1996
Type
Textbook
Number of Pages
232 Pages

Dimensions

Item Height
235mm
Item Width
155mm
Volume
352
Item Weight
1170g

Additional Product Features

Series Title
The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Editor
Hisham Haddara
Country/Region of Manufacture
Netherlands

Objectbeschrijving van de verkoper

Informatie van zakelijke verkoper

Phatpocket Limited
Scott Sherman
Unit 20501
40-45 Cartersfield Road
Waltham Abbey
Essex
EN9 1JD
United Kingdom
Contactgegevens weergeven
:noofeleT23211184430
:liam-Emoc.tekcoptahp@kuyabe
Btw-nummer:
  • GB 858 5123 06
Handelsregistratienummer:
  • 04924751
Ik verklaar dat al mijn verkoopactiviteiten zullen voldoen aan alle wet- en regelgeving van de EU.
Phatpocket Book Shoppe

Phatpocket Book Shoppe

98,9% positieve feedback
115K objecten verkocht

Gedetailleerde verkopersbeoordelingen

Gemiddelde van de afgelopen 12 maanden

Nauwkeurige beschrijving
4.9
Redelijke verzendkosten
5.0
Verzendtijd
4.9
Communicatie
4.9
Ingeschreven als zakelijke verkoper

Feedback verkoper (42.093)

9***3 (2)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Delivery time is excellent.
8***8 (338)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Great thanks!
8***8 (2014)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Very good value.