Afbeelding 1 van 1
Characterizati on Methods for Submicron MOSFETs (The Springer International Seri
Objectstaat:
Verzendkosten:
Bevindt zich in: Hertfordshire, Verenigd Koninkrijk
Levering:
Geschatte levering tussen do, 16 mei en do, 23 mei tot 43230
Retourbeleid:
30 dagen om te retourneren. Koper betaalt voor retourzending. Details bekijken- voor meer informatie over retourzendingen
Betalingen:
Winkel met vertrouwen
Verkopergegevens
- 98,9% positive feedback
Ingeschreven als zakelijke verkoper
De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.
eBay-objectnummer:152471050351
Specificaties
- Objectstaat
- ISBN
- 9780792396956
- Subject Area
- Electrical Engineering
- Publication Name
- Characterization Methods for Submicron Mosfets
- Publisher
- Springer
- Subject
- Engineering & Technology, Physics
- Publication Year
- 1996
- Type
- Textbook
- Format
- Hardcover
- Language
- English
- Item Height
- 235mm
- Item Width
- 155mm
- Item Weight
- 1170g
- Number of Pages
- 232 Pages
Over dit product
Product Information
The Metal-Oxide Semiconductor Field-Effect Transistor (MOSFET) is a key component in modern microelectronics. During the last decade, device physicists, researchers and engineers have been continuously faced with new elements making the task of MOSFET characterization increasingly crucial, as well as more difficult. The progressive miniaturization of devices has caused several phenomena to emerge and modify the performance of scaled-down MOSFETs. Localized degradation induced by hot carrier injection and Random Telegraph Signal (RTS) noise generated by individual traps are examples. It was thus unavoidable to develop new models and new characterization methods, or at least adapt the existing ones to cope with the special nature of these new phenomena. This study deals with techniques which show high potential for characterization of submicron devices. Focus is placed upon the adaptation of such methods to resolve measurement problems relevant to VLSI devices and new materials, especially Silicon-on-Insulator (SOI). The book was written to provide help to device engineers and researchers to enable them cope with the challenges they face. Without adequate device characterization, new physical phenomena and new types of defects or damage may not be well identified or dealt with, leading to an undoubted obstruction of the device development cycle.
Product Identifiers
Publisher
Springer
ISBN-13
9780792396956
eBay Product ID (ePID)
91408789
Product Key Features
Subject Area
Electrical Engineering
Publication Name
Characterization Methods for Submicron Mosfets
Format
Hardcover
Language
English
Subject
Engineering & Technology, Physics
Publication Year
1996
Type
Textbook
Number of Pages
232 Pages
Dimensions
Item Height
235mm
Item Width
155mm
Volume
352
Item Weight
1170g
Additional Product Features
Series Title
The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Editor
Hisham Haddara
Country/Region of Manufacture
Netherlands
Objectbeschrijving van de verkoper
Informatie van zakelijke verkoper
Phatpocket Limited
Scott Sherman
Unit 20501
40-45 Cartersfield Road
Waltham Abbey
Essex
EN9 1JD
United Kingdom
Btw-nummer:
- GB 858 5123 06
Handelsregistratienummer:
- 04924751
Ik verklaar dat al mijn verkoopactiviteiten zullen voldoen aan alle wet- en regelgeving van de EU.
De verkoper neemt de volledige verantwoordelijkheid voor deze aanbieding.
eBay-objectnummer:152471050351
Verzending en verwerking
Objectlocatie:
Hertfordshire, Verenigd Koninkrijk
Wordt verzonden naar:
Wereldwijd
Uitgesloten:
Afghanistan, China, Hongkong, Italië, Jemen, Libië, Nauru, Oekraïne, Russische Federatie, Somalië, Taiwan
Verzending en verwerking | Tot | Service | Levering*Zie opmerkingen over levering |
---|---|---|---|
GBP 7,20 (ongeveer EUR 8,37) | Verenigde Staten | Standaardverzendservice (Royal Mail International Standard) |
Verwerkingstijd |
---|
Wordt doorgaans binnen 2 werkdagen na ontvangst van betaling verzonden. |
Belasting |
---|
Er kunnen belastingen van toepassing zijn tijdens Betalen. Meer weten?Lees meer over het betalen van belastingen op eBay-aankopen. |
Btw voor objectnr.152471050351
Btw voor objectnr.152471050351
Verkoper berekent btw op objecten die naar de volgende staten worden verzonden:
Staat | Btw-tarief |
---|
Retourbeleid
Nadat u het object hebt ontvangen, kunt u contact opnemen met de verkoper binnen | Kosten voor retourzending |
---|---|
30 dagen | Koper betaalt voor retourzending |
De koper is verantwoordelijk voor de kosten van de retourzending.
Details retourbeleid |
---|
Retourzendingen geaccepteerd |
Betalingsgegevens
Betalingsmethoden
Ingeschreven als zakelijke verkoper
Feedback verkoper (42.093)
9***3 (2)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Delivery time is excellent.
8***8 (338)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Great thanks!
8***8 (2014)- Feedback gegeven door koper.
Afgelopen maand
Geverifieerde aankoop
Very good value.